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白光3D轮廓测量仪适配芯片制造生产线，助力半导体行业发展
2022-12-19 近年来，面对持续高涨的芯片需求，半导体行业生产迎来了高难度挑战——对芯片工艺要求更精细，从5nm到3nm，甚至是2nm。“先进封装”的提出，是对技术的新要求，也是对封装工艺中材料和设备的全新考验。芯片身上布控着几千万根晶体管，而晶体管越小，可放置的晶体管越多，性能也将越高。芯片的进化就是晶体管变小的过程。晶体管密度更大、占用空间更少、性能更高、功率更低，但挑战也越来越难以克服。小尺寸下，芯片物理瓶颈越来越难以克服。尤其在近几年，先进节点走向10nm、7nm、5nm.........
数控机床检测技术之激光干涉仪角度测量
2022-12-12 目前，在几何量测量中最重要的激光技术是用广电转换条纹计数等方法来测量长度，这种方法具有精度高、速度快、量程大、始于非接触测量及自动测量等优点。基于激光干涉仪技术的精密角度测量系统，通过角度转换装置将角度量转换为可以反映干涉光路中光程差变化的线性位移量，由此引起干涉条纹的变化，再通过相应电路对干涉条纹进行一系列处理，从而实现了对大转角的精密测量。具有结构简单、误差恒定、测量精度高、测角范围大、易于数字化等特点。激光干涉仪利用激光作为长度基准，可以对数控设备（加工中心、三坐标测量...
白光干涉仪是啥呢
2022-12-12 一、干涉仪是一种对光在两个不同表面反射后形成的干涉条纹进行分析的仪器。其基本原理就是通过不同光学元件形成参考光路和检测光路。二、工作原理：(1)干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动，而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起，所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量，从而测得与此有关的其他物理量。(2)测量精度决定于测量光程差的精度，干涉条纹每移动...
光栅测长机其主要的特性分别有哪些呢？
2022-11-27 光栅测长机采用进口高精度光栅测量系统、进口超高精密研磨导轨、双向可切换恒测力系统、高性能计算机控制系统技术，实现各种长度参数的高精度测量。通过超精密研磨导轨保证测量行走的高稳定性及直线度，采用进口高精度光栅测量系统记录接触测量中长度方向坐标，由计算机将数据测力装置、温度传感器的反馈数据进行合成，按被测件参数的相关定义及公式进行分析，计算获得相关长度参数。该产品具有精度高、功能强、操作简洁、智能等优点，能够检定精密量具、精密量规，如块规、光滑环塞规、卡规、螺纹塞规、花键规。还可...
三坐标测量机导轨和工作台介绍
2022-11-25 三坐标测量机可以代替多种表面测量工具及昂贵的组合量规，能够对各种零件和部件的尺寸、形状及相互位置关系进行检测，也可以对软材质或复杂零件进行光学扫描测量。它是在三维空间上通过采集点的三维坐标来评定物体几何形状，是集光、电、气、机械与计算机技术为一体的自动化坐标测量仪器，也是制造业中的重要检测设备。一、工作台花岗岩具有变形小、稳定性好、耐磨损、不生锈，且价格低廉、易于加工的特点。Mars系列三坐标测量机采用花岗岩来制造固定式的工作台，使机器具有承载能力强、装卸空间宽阔、便捷的优点...
三坐标测量机测头系统是什么
2022-11-25 测头系统是三坐标测量机的数据采集传感器系统，是三坐标测量机的关键部件，测头精度的高低决定了坐标测量机的测量重复性。三坐标测量机的功能、工作效率、精度与测头密切相关。在对工件进行测量时，三坐标测量机能够根据测头系统探测工件，返回工件表面的点数据，通过三坐标的软件系统计算各类几何形状、尺寸等。测头的分类按结构原理，测头可分为机械式、光学式和电气式。按测量方法，测头可分为接触式和非接触式。测头系统的组成测头系统包括分度测座、测头及其附件，其附件包括测杆、加长杆和探针。1、测座Pan...
发动机叶片曲面检测工具|白光干涉仪五轴全自动测量
2022-11-23 叶片作为发动机的核心部件，制造工艺复杂，科技含量高，在研发过程中遇到的难题很多。可以说发动机的性能很大程度上取决于叶片型面的设计和制造水平。其中航空发动机叶片是典型的自由曲面零件，它的曲线形状、制造精度和质量直接决定了发动机的推进效率大小和安全。一个发动机上有很多叶片，每一个圆盘上大概有30多个叶片，如果叶片的形状和尺寸不能够保证，那么在发动机高速运转时是非常危险的。所以对于叶片的型面和几何尺寸检测也是非常重要的，但是就叶片的形状来说常规测量方法很难进行测量。白光干涉仪作为一...
没想到形貌仪竟然有如此之多的特性
2022-11-22 形貌仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类...

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