CEM3000系列桌面式多功能实时能谱扫描电镜高易用性快速成像、一键成片，无需过多人工调节。超高分辨率优于4nm(SE)，优于8nm(BSE)@20kV，超大景深毫米级别景深，具有高空间分辨率。

NS系列薄膜台阶测厚仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，可测量沉积薄膜的台阶高度、抗蚀剂（软膜材料）的台阶高度等。

CEM3000系列英国上市公司365高分辨率扫描电镜操作系统简便，使用过程简单快捷。样品一键装入，自动导航和一键出图能力（自动聚焦+自动消像散+自动亮度对比度）帮助用户在短短几十秒内就可获取高清图像，大大提升了使用效率。

CEM3000简单易操作超高分辨率扫描电镜外型紧凑，空间适用性强，整机采用大量的抗干扰设计，避免使用环境造成的影响，拓宽了应用范围。同时，该系列台式电镜具有非常丰富的自动调节功能，能够对不同类型的样品进行观测，具有高空间分辨率。

VT6000系列3D共聚焦显微系统主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中，其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。

SuperViewW白光干涉非接触式粗糙度仪以白光干涉技术为原理，用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。