CEM3000毫米级超大景深桌面扫描电镜具有出色的电子光学系统，优于4nm的空间分辨率，保证了高放大倍数下的清晰成像，用于对样品进行微观尺度形貌观测和分析，能够满足纳米尺度的形貌观测需求。其抗振设计，在充满机械振动和噪音的工业环境中依旧稳如泰山，拍摄出清晰、高分辨率的图像。

VT6000高分辨率成像共聚焦显微镜以共聚焦技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像。横向分辨率高，所展现的放大图像细节要高于常规的光学显微镜。更擅长微纳级粗糙轮廓的检测。

SuperViewW白光干涉表面微观形貌检测系统通过干涉物镜产生干涉条纹，使基本的光学显微镜系统变为白光干涉轮廓仪。它能以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

NS系列软膜材料台阶高度测量仪是利用光学干涉原理，通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度，具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度，包括金属、陶瓷、塑料等。

CEM3000优于4nm高分辨率台式扫描电镜是一款用于对样品进行微观尺度形貌观测和分析的紧凑型设备。空间分辨率出色和易用性强，用户能够非常快捷地进行各项操作。甚至在自动程序的帮助下，无需过多人工调节，便可一键得到理想的拍摄图片。

NS系列涂层厚度测量台阶仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。